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Electrical characterisation and aging studies of silicon strip sensors
Axel König
Art der Arbeit
Masterarbeit
Universität
Universität Wien
Fakultät
Fakultät für Physik
Betreuer*in
Manfred Krammer
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Alle Rechte vorbehalten / All rights reserved
URN
urn:nbn:at:at-ubw:1-30141.94247.135064-0
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(Print-Exemplar eventuell in Bibliothek verfügbar)

Abstracts

Abstract
(Deutsch)
Seit 2009 existiert eine Kollaboration zwischen dem Institut für Hochenergiephysik und Infineon Technologies Austria AG welche als Ziel hat, Infineon als Hersteller von Silizium Streifensensoren für das Upgrade des CMS Spurdetektors zu etablieren. Sie hält bis zum heutigen Tage an und bildet die Basis für die hier vorgestellte Masterabeit. Die Arbeit schließt an bereits gewonnene Resultate an und eröffnet neue und wertvolle Erkenntnisse durch eine Vielzahl an durchgeführten Untersuchungen. Zunächst wird ausführlich eine bereits bekannte Problematik, welche eine Zone von defekten Streifen darstellt, untersucht. Ein möglicher Mechanismus wird beschrieben, der für diesen Defekt verantwortlich sein könnte. Die Plausibilität dieses Mechanismus wird daraufhin durch eine neue Methode von elektrischen Messungen an Silizium Streifensensoren gefestigt. Auch wurde versucht das Fehlerbild mit Hilfe der neu gewonnenen Erkenntnisse hervorzurufen. Mögliche Fehlerursachen bei der Prozessierung, aber auch bei der Handhabung wurden erforscht, welche den Grundstein zu einem optimierten Verfahren bildeten. Des Weiteren wird eine simple Methode präsentiert, welche das Problem der defekten Streifen temporär behebt. Abgeschlossen werden die Untersuchungen der defekten Zone mit Messungen des spezifischen elektrischen Widerstandes der obersten Schicht von Streifensensoren. Diese hochpräzisen Messungen wurden mit einfachsten Mitteln durchgeführt und bilden den Grundstein für zukünftige Optimierungen. Den zweiten Teil dieser Arbeit bilden Alterungsstudien. Die Variabilität der elektrischen Eigenschaften von Silizium Streifensensoren wurden zunächst unter variierenden und teils extremen Umwelteinflüssen mit Hilfe einer Klimakammer untersucht. Des Weiteren wurden erstmals Bestrahlungsstudien für Sensoren dieses Herstellers an einem Kernreaktor durchgeführt. Die Planung und die Auswertung dieser Studien bilden einen Grundstein für weitere Untersuchungen dieser Art.

Schlagwörter

Schlagwörter
(Englisch)
Silicon Strip Sensors CMS-experiment CMS-upgrade electrical characterisation
Schlagwörter
(Deutsch)
Silizium-Streifensensoren CMS-Experiment CMS-upgrade elektrische Charakterisierung Alterungsstudien
Autor*innen
Axel König
Haupttitel (Englisch)
Electrical characterisation and aging studies of silicon strip sensors
Paralleltitel (Deutsch)
Elektrische Charakterisierung und Alterungsstudien von Silizium-Streifensensoren
Publikationsjahr
2014
Umfangsangabe
115 S. : Ill., graph. Darst.
Sprache
Englisch
Beurteiler*in
Manfred Krammer
Klassifikationen
33 Physik > 33.46 Hochenergie-Kernphysik ,
33 Physik > 33.72 Halbleiterphysik
AC Nummer
AC12064346
Utheses ID
30560
Studienkennzahl
UA | 066 | 876 | |
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